オージェ過程

光電子が飛び出した後の軌道にはホールができます。このような状態では、
原子は不安定になるので、それよりもエネルギー値が高い軌道から電子が移動し
ます。このとき放出されたエネルギーの差を、他の軌道の電子が受け取り原子外
に飛び出します。

M_4,5N_4,5N_4,5 オージェ スペクトル

装置：オージェ電子分光分析装置 (AES：Auger Electron Spectroscopy)

  X線 ：MgKα
  試料：Te (    Si(100)に60[ML]蒸着、純度6N)
        Ag ( Agプレートに30[ML]蒸着、純度6N)

LEED (I/V curve)

 低速電子による回折像は表面の構造を反映しています。LEED像のスポットと
スポットの並びからは、latice factorが判ります。I/V curve からは strcu-
ture factor が判ります。この研究室では I/V curve を測定し、その解析の
ために数値計算を行っています。

装置：LEED
試料：Si(100) clean  (下図)