| タイトル | Accrual Failure Detectors |
|---|---|
| 著者 | Naohiro Hayashibara |
| 主査 | Takuya Katayama (JAIST, Japan) |
| 副査 | Adel Cherif (Qatar Univ., Qatar), Xavier Defago
(JAIST, Japan),
Yoichi Shinoda (JAIST, Japan), Richard D. Schlichting (AT&T Labs Research, USA), Makoto Takizawa (Tokyo Denki Univ., Japan) |
| 学位取得年度 | 2004年度 |
| 学位の種類 | 博士（情報科学）（課程） |
| 概要 | click here |
| 本文 | 学位論文(PDF, 797KB) |