学位論文詳細

タイトルAccrual Failure Detectors
著者Naohiro Hayashibara
主査Takuya Katayama (JAIST, Japan)
副査Adel Cherif (Qatar Univ., Qatar), Xavier Defago (JAIST, Japan), Yoichi Shinoda (JAIST, Japan),
Richard D. Schlichting (AT&T Labs Research, USA), Makoto Takizawa (Tokyo Denki Univ., Japan)
学位取得年度2004年度
学位の種類博士(情報科学)(課程)
概要click here
本文学位論文(PDF, 797KB)