タイトル | Accrual Failure Detectors |
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著者 | Naohiro Hayashibara |
主査 | Takuya Katayama (JAIST, Japan) |
副査 | Adel Cherif (Qatar Univ., Qatar), Xavier Defago
(JAIST, Japan),
Yoichi Shinoda (JAIST, Japan), Richard D. Schlichting (AT&T Labs Research, USA), Makoto Takizawa (Tokyo Denki Univ., Japan) |
学位取得年度 | 2004年度 |
学位の種類 | 博士(情報科学)(課程) |
概要 | click here |
本文 | 学位論文(PDF, 797KB) |